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光電檢測原理及基本知識(一)

     有源光电器件是一种基本的半导体结。为了更全面地测试它们,不仅需要测试它们的正向I-V特性,还需要监测它们的反向I-V特性。传统的激光二极管电流驱动在实验室水平是合适的,但不适合开发一个完整的半导体器件测试方案。2400系列数字铝源表综合了源输出和测量的能力,非常适合于半导体器件的特性分析。
    
     为了全面分析有源光电器件的特性,需要正反电压和电流源。例如,反向击穿测试需要在测量电压时输出非常小、精确的反向电流(10na)。
    
     有限电流避免了对器件的永久性损坏,使击穿电压测试更加准确。当击穿电压已知时,可以在器件中加入一个安全的反向偏压,测量器件的漏电流。器件的漏电流指数将有助于器件的进一步分析。
    
     数字源表系列集成了一个完整的四象限精密源(图3)和测量能力。源和测量能力范围从低至1A或200 mV到高至5A或1000V。这种广泛的动态测量范围使测试许多设备成为可能,如Algaas激光二极管和硅光电池。
    
     接触检查功能2400系列数字源表具有接触检查功能,使其能够在激励信号或测试前自动识别所有测试电缆是否已连接到被测设备。图6显示该功能识别远程传感终端未连接到o被测设备。如果没有连接感测终端,则在执行测试时,电压嵌入功能将不起作用。
    
     远程电压测量数字源表系列仪表具有二线法和四线法的测量能力,二线法和源输出的测试共用一组笔,如图7a所示,当输出电流较大时,测试笔的损耗电压降与正向电压相比可以忽略不计。放在被测设备上。
    
     四线电压测试使用一个单独的笔来测试被测器件上的电压降。因为电压测量电路的输入阻抗非常高,所以流过该笔的电流在电路中非常小。与被测器件的电压降相比,笔上的小电流引起的电压降可以忽略。